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封測係統
解決（jué）方案
儀器儀（yí）表及夾具
CBT-C090A矽光芯片老化測（cè）試係（xì）統，采（cǎi）用1個老化機箱配置4個老化測試（shì）抽屜的設計，可同時對多個芯片進行老化測試，減少測試成本，提（tí）高測試（shì）效率。結合客戶擴容需求，未來可通過（guò）增加機架支撐擴展至多層老化機（jī）箱，最大可容納40個可獨立加溫及加載電流的老化測試抽屜，支持更多器件同時獨立老化測試，提高產量，降低成（chéng）本。
CBT-C090A老化測試係統加電方式獨特，根據客戶的芯片尺寸和焊盤信息，夾具及芯片加電可以采用探針加電設計，通過PCB走線（xiàn）和（hé）連接器連（lián）接到電源。老化夾具采用陶瓷片控溫（wēn），每（měi）個（gè）夾具加電和控溫獨立可控。 CBT-C090A老化測試係統設計非常有彈性，可提供多路恒壓源，能夠支持nA級電流測試，電流檢測值可以通過通信接口用於在線監控。同時，該產品兼（jiān）容性強（qiáng），可滿足客戶定製需求。
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