封測係統

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LHX-305-COC 激光器老化係統

采用LHX-305-COC半導體激光器壽命老(lǎo)化係統,可以減少測試成本(běn),提高(gāo)測試效率。目前係統(tǒng)包含1個老化機箱及(jí)1個老化測試(shì)抽屜,可同時對32顆CW芯片進行獨(dú)立加電老(lǎo)化。結合用戶擴容需求,目前結構上按照1個老化機(jī)箱及4個老化(huà)測試抽屜設計,未來可通過增加機架支撐(chēng)擴展至多層(céng)老化機箱,最大可容(róng)納40個可獨立加溫及(jí)加載電流的老(lǎo)化測試抽屜,同時支持1280個器(qì)件的老化。用戶可以同時進行多個(gè)獨(dú)立(lì)的老化,提高(gāo)產量,降低成本。

產品特點

  • 高密度,最高可同時老化1280支激光器
  • 溫度(dù)控製範圍從40°C到150°C
  • 電流以芯片為單位輸出
  • 支持TO、蝶(dié)形、COC及定製封裝
  • 探針間距(jù)300µm(可支持定製至150µm)
  • 每通道電(diàn)流源獨立,範圍可達到500mA
  • 電流模式:ACC、熱插拔(bá),操作簡便,數據管理安全可靠
  • 模塊化設計,便於擴展

產品應用(yòng)

LHX-305-COC的係統設計非常彈性,允許您在(zài)一個係統測試多種不同的封(fēng)裝形式,隻需(xū)更換不同的老化測試抽屜即可。係統支持ACC獨立老化,每一個通道的電流典(diǎn)型值為500mA。Reliability Sys軟件可以幫助您更加(jiā)快捷的進行測試。您(nín)可以方便的配置多種器件類型和測試方式,軟(ruǎn)件(jiàn)自動分析、保存及導出測試(shì)結果(guǒ),提供多種報錯模式處理,不需要客(kè)戶進行任何額外的編程,即使掉電也不會影響到數據的完整性。也可以將數據導入到csv文件中,通過其(qí)它(tā)軟(ruǎn)件分析。

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