LHX-30602-TO 大功率激光器老化測（cè）試係統

LHX-30602-TO 大功率激光器老化測試係統（tǒng）解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及激光器模塊需要（yào）使用（yòng）窄（zhǎi）脈衝大電流測（cè）試（shì）和老化、芯片（piàn）發（fā）熱嚴重等問題而創（chuàng）新開發（fā）推出一套通用性好、大（dà）功率、循環水冷的老（lǎo）化測試係統。產品具有大電流窄脈衝恒流（liú）特性好、電流穩定、抗幹擾能力 強（qiáng），並（bìng）具有防過衝、防反衝、抗浪湧的穩壓及恒流的雙重保護電路等功能，為大功率半導體激光器芯片及激光器模（mó）塊的老化測試提供（gòng）了一個完整（zhěng）的解決方案。