WIT-220全自（zì）動晶圓光電測試係統

WIT-220晶圓光電測試探針係統綜合考（kǎo）慮穩定性、電噪聲處理、空間（jiān）布局等設計要求，采用精（jīng）密運動控（kòng）製係統，高性（xìng）能隔振係統，結合自主研發圖（tú）像軟件算法，實現高穩定性小模斑芯片光性（xìng）能和高精度電（diàn）性能測（cè）試，能夠滿足高精度光（guāng）測試指標以及pA/nA微信號測量應用要（yào）求，可提前在晶圓級別篩選不良芯（xīn）片，防止流入後端工藝，節約整體（tǐ）封測成本（běn），提高研發以及生（shēng）產（chǎn）效率。