CA-6000全自動藍膜/芯片吸附盒測試係統

CA-6000 芯片自動耦合測試係統由亞微米級高精度移動平台、高性能隔振係統、多方位（wèi）視（shì）覺檢測（cè）係統（tǒng）構建而成。該係統采用自主研發上位機軟件（jiàn）、融合圖像識別及（jí）人工智（zhì）能算法，實現自動對光、自（zì）動壓接探針（zhēn）卡等操作，中間過程無需人工參與，大大提高（gāo）測試效率（lǜ）及精確度，進一步為客戶（hù）降本增效。