封測係統

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LHX-305-COC 激（jī）光器（qì）老（lǎo）化係統

采用LHX-305-COC半導體激光器壽命老化係（xì）統（tǒng），可（kě）以減少測試成本，提高測試效率。目前（qián）係統包含1個老（lǎo）化（huà）機箱及1個老化測試抽屜，可（kě）同時對32顆CW芯片進（jìn）行獨立加（jiā）電老化。結合用戶擴容需求（qiú），目前結構上按照1個老化機箱及4個老（lǎo）化測試抽屜設計，未來可（kě）通過（guò）增加機架支撐擴展至多層老化機箱，最大可容納40個可獨立加溫及加載電流的（de）老化測試抽屜，同時支持1280個器件的（de）老化。用戶可（kě）以同時進行多個（gè）獨立（lì）的老化，提高產量，降低成本。

產品（pǐn）特點

  • 高密度（dù），最高可同時老化1280支激光器
  • 溫度控製範圍從40°C到（dào）150°C
  • 電流以芯片為單位輸出
  • 支持TO、蝶（dié）形、COC及（jí）定製（zhì）封裝
  • 探針間距300µm（可支持定製至150µm）
  • 每（měi）通道（dào）電流源獨立，範圍可達到500mA
  • 電流（liú）模式：ACC、熱插拔，操（cāo）作簡便（biàn），數據管理安全可靠
  • 模塊化設計，便於擴展（zhǎn）

產品應用（yòng）

LHX-305-COC的係統設計非（fēi）常彈性，允（yǔn）許您在一（yī）個係（xì）統測試多（duō）種不同的封裝形式，隻需更換不同的老化測試抽（chōu）屜即（jí）可（kě）。係統（tǒng）支（zhī）持ACC獨立（lì）老化，每一個通道的電流典型值為500mA。Reliability Sys軟件可以幫助您更加快捷的進行測試。您可以方便的配置多種器件類型和（hé）測試方式，軟件自動分析、保存及導出測試結果（guǒ），提供多種報錯模式處（chù）理，不需要客（kè）戶進（jìn）行任（rèn）何額外（wài）的編程，即使掉電也不會影響到數據的完整（zhěng）性。也可以將（jiāng）數據導入到csv文件中，通（tōng）過其它軟件分析。

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