CA-6000全自動藍膜/芯片吸附盒（hé）測試係統

CA-6000 芯片自動耦合測試（shì）係統由亞微米級高精度移動平台、高（gāo）性（xìng）能隔振（zhèn）係統、多方（fāng）位視覺檢測係統構建而成。該（gāi）係統采用自主研發上位機軟件、融（róng）合圖像（xiàng）識別及人工智能算法，實現自動對光、自動壓接探針卡等操作，中間過程無需人（rén）工參與，大大提高測（cè）試效率及精確度，進一步為（wéi）客戶降本增效。